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2015-7

粉體綜合測(cè)試儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量指標(biāo)

粉體綜合測(cè)試儀主要應(yīng)用于制藥、電池材料、粉末涂料、非金屬礦、石墨、食品、有色金屬、粉體工程設(shè)計(jì)、粉體物性研究以及教學(xué)等領(lǐng)域。粉體綜合測(cè)試儀的特點(diǎn)是一機(jī)多用，操作簡(jiǎn)便，重復(fù)性好，測(cè)定條件容易改變，配套完整等。粉體物性是粉體材料的基本特性，研究粉體物性對(duì)粉體生產(chǎn)、加工、包裝、運(yùn)輸、儲(chǔ)存、應(yīng)用等具有重要的實(shí)際意義。粉體綜合測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)定粉體物性的儀器，具體測(cè)試項(xiàng)目包括休止角、崩潰角、平板角、振實(shí)密度、松裝密度、分散度等。粉體綜合測(cè)試儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量項(xiàng)目：1.休止角：粉體堆積層的自由表...

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2015-7

四探針電阻率測(cè)試儀的檢定要求和環(huán)境

電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的方法很多，四探針?lè)ㄊ且环N廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。它的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便，度高，對(duì)樣品的形狀無(wú)嚴(yán)格要求。電阻率測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料及工藝硅片的電阻率，或擴(kuò)散層及外延層方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。一般的四探針電阻率測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過(guò)厚度數(shù)值的設(shè)置，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。四探針電阻率測(cè)試儀檢定的技術(shù)要求1、整體方法檢定電阻率測(cè)試儀的標(biāo)準(zhǔn)樣片，表面應(yīng)沒(méi)有任何臟物，長(zhǎng)期使用應(yīng)注意定期清洗(按標(biāo)準(zhǔn)樣片使用...

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2015-7

四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)介

四探針測(cè)試儀-概述：數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。四探針測(cè)試儀-特點(diǎn)：儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬...

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2015-7

表面電阻率測(cè)試儀的影響因素

表面電阻率測(cè)試儀的影響因素主要有測(cè)試電壓，測(cè)試時(shí)間，環(huán)境溫濕度和外界干擾這些，下面一一來(lái)看下具體的影響在哪里。1.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)對(duì)表面電阻率測(cè)試儀的影響?介質(zhì)材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持不變，即歐姆定律對(duì)此并不適用。常溫條件下，在較低的電壓范圍內(nèi)，電導(dǎo)電流隨外加電壓的增加而線性增加，材料的電阻值保持不變。超過(guò)一定電壓后，由于離子化運(yùn)動(dòng)加劇，電導(dǎo)電流的增加遠(yuǎn)比測(cè)試電壓增加的快，材料呈現(xiàn)的電阻值迅速降低。由此可見(jiàn)，外加測(cè)試電壓越高，材料的電阻值越低，以致...

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2015-7

粉末流動(dòng)性測(cè)定儀相關(guān)簡(jiǎn)介

粉末流動(dòng)性測(cè)定儀粉體流動(dòng)性測(cè)試儀通過(guò)測(cè)試休止角（安息角）、定質(zhì)量流速、定體積流速、表觀密度、松裝比、體積密度、堆積密度及松散密度等數(shù)據(jù)來(lái)評(píng)定粉末流動(dòng)能力；采用多規(guī)格可更換出口孔徑之漏斗;根據(jù)測(cè)試粉體流動(dòng)能力狀況來(lái)選擇配置出口漏斗孔徑數(shù);出口控制檔板，秒表計(jì)時(shí)功能;.配置標(biāo)準(zhǔn)不銹鋼量筒，固定圓盤法角度測(cè)試.本品為粉體流動(dòng)性測(cè)試綜合性測(cè)量平臺(tái)。粉末流動(dòng)性測(cè)定儀測(cè)量1稱量50g一份的樣品，到±0.1g。2用手堵住漏斗底部小孔，把稱量好的50g樣品倒進(jìn)漏斗中，注意粉末必...

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2015-6

水份檢測(cè)的意義

水分測(cè)定儀簡(jiǎn)介：水分測(cè)定儀能夠檢測(cè)各類有機(jī)及無(wú)機(jī)固體、液體、氣體等樣品中含水率的的儀器叫做水分測(cè)定儀，按測(cè)定原理可以分類物理測(cè)定法和化學(xué)測(cè)定法兩大類。物理測(cè)定法常用的用失重法、蒸餾分層法、氣相色譜分析法等，化學(xué)測(cè)定方法主要有卡爾費(fèi)休法（KarlFischer）、甲苯法等，標(biāo)準(zhǔn)化組織把卡爾費(fèi)休（KarlFischer）方法定為測(cè)微量水分標(biāo)準(zhǔn)，我們也把這個(gè)方法定為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微量水分。常見(jiàn)的失重法水分儀有鹵素水分測(cè)定、紅外水分測(cè)定儀、微波水分測(cè)定儀等；常見(jiàn)的卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀主要有容量...

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2015-6

顆粒松裝密度測(cè)定儀的測(cè)量過(guò)程介紹

顆粒松裝密度測(cè)定儀是一種常用于實(shí)驗(yàn)室的測(cè)定顆粒質(zhì)量密度的儀器。它可以測(cè)量顆粒的流動(dòng)性和松裝密度，具體測(cè)量過(guò)程如下。顆粒松裝密度測(cè)定儀適用于用標(biāo)準(zhǔn)漏斗法測(cè)定金屬粉末的流動(dòng)性。凡能自由流過(guò)孔徑為2.5mm標(biāo)準(zhǔn)漏斗的粉末，均可采用本裝置。注：FL4-1型號(hào)漏斗為黃銅材質(zhì)。一、測(cè)量原理金屬粉末的流動(dòng)性，以50g金屬粉末流過(guò)規(guī)定孔徑的標(biāo)準(zhǔn)漏斗所需要的時(shí)間來(lái)表示。二、顆粒松裝密度測(cè)定儀儀器結(jié)構(gòu)1漏斗(小孔直徑2.5mm和5.0mm)漏斗為黃銅材料制成，且具有足夠的壁厚和硬度，以防變形和過(guò)...

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2015-6

電壓降測(cè)試儀使用方法

電壓降測(cè)試儀功能1、該儀器適用于測(cè)量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降，從而判斷接線口優(yōu)劣，本儀器具有可調(diào)的恒電流輸出，微電壓測(cè)試和數(shù)碼管顯示。2、測(cè)試可設(shè)定時(shí)間，時(shí)間到和電流超高關(guān)斷電路測(cè)量。3、該產(chǎn)品采用先進(jìn)電路，其測(cè)量出的電壓降值直接通過(guò)數(shù)碼管顯示，直觀明了。電壓降測(cè)試儀使用方法端子與電線壓接處的電壓降試驗(yàn)，在端子與電線壓接處中間位置至電線75mm長(zhǎng)的電線處(剝?nèi)ソ^緣層釬焊牢固，寬度可根據(jù)客戶要求定做)的兩點(diǎn)間測(cè)量，扣除75mm長(zhǎng)的電線電壓降后即為端子...

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